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Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen

Die im Servicelabor verfügbaren mikroksopischen Methoden (Atomic Force Microscopy [AFM], Environmental Scanning Electron Microscopy [SEM/ESEM], Transmission Electron Microscopy [TEM] und Lichtmikroskopie [LM]) bieten die Möglichkeit, eine Vielzahl verschiedenartiger Systeme auf Mikro- und Nanometerskala zu charakterisieren. Diese sich ergänzenden Methoden ermöglichen die Einblicke in die Architektur und Funktionen von Materialsystemen.

Arbeitsgebiete und Forschungsziele

Mikroskopie 

 

Oberflächenanalyse und Oberflächenmorphologie von:

 

  • polymeren Netzwerken,
  • dünnen organischen Filmen,
  • Nanopartikeln,
  • kristalline Polymeren
  • Oberflächen mit Zellen oder Bakterien,
  • Biomaterialen
  • Polymer-Kompositmaterialien.
  • Polymer-Blends
  • Polymerphasen mit unterschiedlichen Materialeigenschaften durch Phase Mode AFM .

 

Grenzflächen- und Bulkmorphologie von:

  • Polymerblends und Blockcopolymeren,
  • Polymer Kompositen,
  • kristallinen Polymeren
  • Latices / Polymerdispersionen,
  • Polymernetzwerken (amphilphile Netzwerke)

  

Serviceleistungen:  

 

  • Rasterkraftmikroskopie (AFM)

 

  •   Rasterelektronenmikroskopie  (SEM) mit Elementaranalyse (EDX)

 

  • Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

 

 

Kontakt für alle mikroskopischen Methoden:

Dr. Ralf Thomann; ralf.thomann(at)fmf.uni-freiburg.de, Tel. 0761-2035379 oder 0761-20395073

(Hinweis: Für FMF Mitglieder stehen für gemeinnützige Projekte auch die mikroskopischen Methoden im FIT zur Verfügung  (inkl. HR-TEM und FIB/SEM). Details siehe dort)

 

 

Beispielbilder:

    

 

    AFM-Aufnahmen

 

                                                             

        SEM- Amphiphile Partikel                                                 Fliegenauge im SEM

 

                                                           

           AFM-Latexpartikel                                                         TEM - Polymer Komposit

 

        Alle Fotos: FMF