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Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen

Die im Servicelabor verfügbaren mikroksopischen Methoden (Atomic Force Microscopy [AFM], Environmental Scanning Electron Microscopy [SEM/ESEM], Transmission Electron Microscopy [TEM] und Lichtmikroskopie [LM]) bieten die Möglichkeit, eine Vielzahl verschiedenartiger Systeme auf Mikro- und Nanometerskala zu charakterisieren. Diese sich ergänzenden Methoden ermöglichen die Einblicke in die Architektur und Funktionen von Materialsystemen.

Arbeitsgebiete und Forschungsziele

 

Oberflächenanalyse und Oberflächenmorphologie von:

  • polymeren Netzwerken,
  • dünnen organischen Filmen,
  • Nanopartikeln,
  • kristallinen Polymeren,
  • Oberflächen mit Zellen oder Bakterien,
  • Biomaterialen,
  • Kompositmaterialien.
  • Blends
  • Ermittlung der Elastizitäts- und Viskositätseigenschaften durch Force Modulation, durch Reibungskräften (Lateral Force Mode) oder durch Phasen Mode Abbildung.

Grenzflächen- und Bulkmorphologie von:

  • Polymerblends und Blockcopolymeren,
  • Polymer Kompositen,
  • kristallinen Polymeren
  • Latices / Polymerdispersionen,
  • Polymernetzwerken (amphilphile Netzwerke)

  

Serviceleistungen: 

  • Rasterkraftmikroskopie (AFM)
  • Rasterelektronenmikroskopie  (SEM) mit Elementaranalyse (EDX)
  • Rasterelektronenmikroskopie  an wässrigen, feuchten Proben (ESEM)
  • Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

 

 

       

        AFM-Aufnahmen

 

                                                             

        Amphiphile Partikel                                                                       Fliegenauge im SEM

 

 

       Latexpartikel

 

        Alle Fotos: FMF