Materialcharakterisierung und Detektortechnologie
Das Arbeitsgebiet der SG Materialcharakterisierung und Detektortechnologie beinhaltet drei Bereiche:
- Wachstum von Halbleitern: Volumenkristalle und Epitaxie (MBE)
- Charakterisierung: Optische, elektrische und thermische Verfahren
- Technologie: Entwicklung von Bauelementen und Detektoren (Technologielabor FMF)
Die Arbeiten sind in mehrere Projekte unterteilt.
Arbeiten zu den II-VI-Halbleiter beschäftigen sich mit Themen aus allen drei Arbeitsgebieten.
Eine Auflistung der in der Abteilung verwendeten Geräte finden sie unter Dienstleistungen.
Leitung der SG Materialcharakterisierung und Detektortechnologie:
Prof. Dr. Michael Fiederle