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Materialcharakterisierung und Detektortechnologie

Das Arbeitsgebiet der SG Materialcharakterisierung und Detektortechnologie beinhaltet drei Bereiche:

 

  • Wachstum von Halbleitern: Volumenkristalle und Epitaxie (MBE)
  • Charakterisierung: Optische, elektrische und thermische Verfahren
  • Technologie: Entwicklung von Bauelementen und Detektoren (Technologielabor FMF)

 

Die Arbeiten sind in mehrere Projekte unterteilt.
Arbeiten zu den II-VI-Halbleiter beschäftigen sich mit Themen aus allen drei Arbeitsgebieten.
Eine Auflistung der in der Abteilung verwendeten Geräte finden sie unter Dienstleistungen.

Leitung der SG Materialcharakterisierung und Detektortechnologie:
Prof. Dr. Michael Fiederle