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Optische und elektrische Materialcharakterisierung

Die folgenden Dienstleistungen und Methoden werden für die optischen und elektrische Materialcharakterisierung angeboten. Die Anforerungen an die Proben sind entweder explizit erwähnt oder können bei den Ansprechpartnern erfragt werden.

  • THz Time-Domain Spektroskopie (THz-TDS)
    Gerät: Fourier Transform THz-Spektrometer in Transmission und Reflexion (Mindestprobengröße 15mm2), THz-Imaging (maximale Probengröße: 7x3cm2)

    Anwendungsgebiete: Bestimmung der komplexen dielektrischen Funktion von Kristallen, Halbleitern und Kunststoffen sowohl quantitativ als auch bildgebend im Frequenzbereich von 200 GHz – 4 THz, kontaktfreie Bestimmung der Leitfähigkeit von Proben im fernsten Infrarot
    Ansprechpartner: Dr. Markus Walther (+49 761 203-5697) oder Dr. Hanspeter Helm (+49 761 203 5738)

  • Hall-Messplatz
    Gerät: Eigenbau
    Anwendungsgebiete: Bestimmung des spezifischen Widerstands, der Ladungsträgerkonzentration, Beweglichkeit und Aktivierungsernergien
    Probenanforderungen: Quader, Wafer
    Bemerkungen: Temperaturbereich 77-400K, 1 Tesla Magetfeld
    Ansprechpartner: PD Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775)
  • CV-Spektroskopie
    Gerät: CV-Spektrometer
    Anwendungsgebiete: Bestimmung der Kapazität und der Ladungsträgerkonzentration, sowie deren Tiefenprofil
    Probenanforderungen: Wafer, Scheiben
    Bemerkungen: 300 Kelvin
    Ansprechpartner: PD Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775)
  • PICTS - Störstellenanalyse
    Gerät: Eigenbau
    Anwendungsgebiete: Bestimmung der Störstellenniveaus und der Wirkungsquerschnitte mittels photoinduzierten Stromtransienten
    Probenanforderungen: Wafer, Scheiben
    Bemerkungen: Temperaturbereich 77-400K
    Ansprechpartner: PD Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775)
  • Photolumineszenzmessungen
    Geräte: Argon-Ionen-Laser (488 nm), vervierfachter Nd-YAG-Laser (266 nm)
    Anwendungsgebiete: Bestimmung der Dotierstoffe, der Störstellenart, der energetischen Lage der Störstellen, des Bandabstandes, der Defekte und ihrer Verteilungen
    Probenanforderungen: planare Proben
    Bemerkungen: Temperaturbereich 4-300K, Spektralbereich 700 - 1800nm
    Ansprechpartner: PD Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775)
  • Kontaktlose Widerstandsmessungen (CoReMa)
    Gerät: Eigenbau
    Anwendungsgebiete: Bestimmung des spezifischen Widerstands und der Oberflächenzustände
    Probenanforderungen: planare Proben
    Bemerkungen: Temperaturbereich 300-400K
    Ansprechpartner: PD Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775)

 

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