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Mikroskopie

Die folgenden Methoden werden als Dienstleistungen für die Analyse von Material-Oberflächen und Grenzflächen, sowie der Bulk-Morphologie angeboten. Alle Dienstleistungen werden auch für externe Interessenten angeboten.

  • Optische Mikroskopie/Lichtmikroskopie (LM)
    Geräte: Axioplan 2 mit Digitalkamera und Heiztisch (Zeiss) und AH2 (Olympus-Vanox)
    Anwendungsgebiet: Untersuchungen zum Kristallisationsverhalten von Polymeren mit polarisierter Lichtmikroskopie, transparente und halbtransparente Filme und Beschichtungen im Durchlichtmodus sowie nicht-transparente ebene Oberflächen im Auflichtmodus
    Bemerkungen: Auflösung bis zu 500 nm mit beschränkter Tiefenschärfe, Bildbereich bis zu mehreren mm
    → Ansprechpartner: Dr. Yi Thomann (+49 761 203-4756) oder Dr. Ralf Thomann (+49 761 203-5379)
  • Rasterkraftmikroskopie (AFM)
    Geräte: Multimode AFM (Fa. Veeco) und PicoSPM II (Molecular Imaging)
    Anwendungsgebiet: Untersuchungen zum Kristallisationsverhalten von Polymeren, Polymerblends, Blockcopolymere sowie Metalle, Halbmetalle, Nanocomposite, Biomaterialen, usw.
    Bemerkungen: Auflösung bis zu 2 nm, Bildbereich maximal 100 µm, nicht nur Oberflächen- aber auch Bulk-Untersuchungen der Proben durch Mikrotomie können durchgeführt werden. Mit dem Multimode AFM lassen sich auch Nanomechaniktests (Nanoindenting und Nanokratzfestigkeit) durchführen
    → Ansprechpartner: Jochen Burkard (+49 761 203-4800) und Dr. Ralf Thomann (+49 761 203-5379)
  • Environmental Scaning Electron Microcopy (ESEM)
    Gerät: ElectroScan 2020 und Quanta 250 FEG (FEI) mit EDX (Oxford)
    Anwendungsgebiet: Untersuchung von Oberflächen mit großer Rauhigkeit.
    Bemerkungen: Auflösung bis zu 10 nm je nach dem Elektronendichte der untersuchten Proben. Tiefenschärfe bis zu > 10µm, Bildbereich bis zu 300µm
    → Ansprechpartner: Mark Schlechtendahl (+49 761 203-4797) und Dr. Ralf Thomann (+49 761 203-5379)
  • Transmissions Elektronen Mikroskopie (TEM) inkl. Kryo-Funktion
    Geräte: CEM 902 (Zeiss) und LEO 912 OMEGA (Zeiss)
    Anwendungsgebiet: Untersuchung von Nanopartikeln, Morphologien semikristalliner Polymere, Polymerblends, Blockcopolymere etc.
    → Ansprechpartner: Dr. Ralf Thomann (+49 761 203-5379) und Prof. Dr. Rolf Schubert (Kryo, +49 761 203-6336 oder -6337)
  • Mikrotomie unter Raum- und Kryo-Bedingungen
    Geräte: ULTRACUT UCT (Leica) mit Kryokammer EM FCS (Leica)
    Anwendungsgebiet: Herstellung sehr dünner Schichten als Präparationsschritt
    Bemerkungen: getrimmte Probenoberflächen für AFM und ESEM Untersuchungen
    → Ansprechpartner: Dr. Ralf Thomann (+49 761 203-5379)

 

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