Servicegruppe "Materialcharakterisierung & Detektortechnologie"
Das Arbeitsgebiet der SG Materialcharakterisierung und Detektortechnologie beinhaltet drei Bereiche:
- Wachstum von Halbleitern: Volumenkristalle und Epitaxie (MBE)
- Charakterisierung: Optische, elektrische und thermische Verfahren
- Technologie: Entwicklung von Bauelementen und Detektoren (Technologielabor FMF)
Die Arbeiten sind in mehrere Projekte unterteilt.
Arbeiten zu den II-VI-Halbleiter beschäftigen sich mit Themen aus allen drei Arbeitsgebieten.
Die Seiten über die Mitglieder der gesamten Servicegruppe stehen unter Personal.
Eine Auflistung der in der Abteilung verwendeten Geräte finden sie unter Ausstattung.
Leitung der SG Materialcharakterisierung und Detektortechnologie:
PD Michael Fiederle
Prof. Karl Jakobs
SWR Landesschau: Kunststoff aus Orangenschalen