Detektortechnologie
Für die Detektor-Technologie (II-VI-Halbleiter) werden folgende Dienstleistungen am FMF Universitäts-intern und extern angeboten. Details der Probenanforderung können bei dem Ansprechpartner nachgefragt werden.
Weitere Informationen finden Sie auf den Seiten der Servicegruppe Materialcharakterisierung und Detektortechnologie.
Flip-Chip-Bonder | Plasmaionenätzer |