Optische und elektrische Materialcharakterisierung
Die folgenden Dienstleistungen und Methoden werden für die optischen und elektrische Materialcharakterisierung angeboten. Die Anforerungen an die Proben sind entweder explizit erwähnt oder können bei den Ansprechpartnern erfragt werden.
Hall-Messplatz
Gerät: Eigenbau
Anwendungsgebiete: Bestimmung des spezifischen Widerstands, der Ladungsträgerkonzentration, Beweglichkeit und Aktivierungsernergien
Probenanforderungen: Quader, Wafer
Bemerkungen: Temperaturbereich 77-400K, 1 Tesla Magetfeld
Ansprechpartner: Prof. Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775)
- CV-Spektroskopie
Gerät: CV-Spektrometer
Anwendungsgebiete: Bestimmung der Kapazität und der Ladungsträgerkonzentration, sowie deren Tiefenprofil
Probenanforderungen: Wafer, Scheiben
Bemerkungen: 300 Kelvin
Ansprechpartner: Prof. Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775) - PICTS - Störstellenanalyse
Gerät: Eigenbau
Anwendungsgebiete: Bestimmung der Störstellenniveaus und der Wirkungsquerschnitte mittels photoinduzierten Stromtransienten
Probenanforderungen: Wafer, Scheiben
Bemerkungen: Temperaturbereich 77-400K
Ansprechpartner: Prof. Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775) - Photolumineszenzmessungen
Geräte: Argon-Ionen-Laser (488 nm), vervierfachter Nd-YAG-Laser (266 nm)
Anwendungsgebiete: Bestimmung der Dotierstoffe, der Störstellenart, der energetischen Lage der Störstellen, des Bandabstandes, der Defekte und ihrer Verteilungen
Probenanforderungen: planare Proben
Bemerkungen: Temperaturbereich 4-300K, Spektralbereich 700 - 1800nm
Ansprechpartner: Prof. Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775) - Kontaktlose Widerstandsmessungen (CoReMa)
Gerät: Eigenbau
Anwendungsgebiete: Bestimmung des spezifischen Widerstands und der Oberflächenzustände
Probenanforderungen: planare Proben
Bemerkungen: Temperaturbereich 300-400K
Ansprechpartner: Prof. Dr. Michael Fiederle (+49 761 203-4775)
Keithley 2601
Ocean Optics UV/vis Spektrometer
TIDAS UV/vis Faser Spektrometer PICTS Schema
Alle Fotos: FMF